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                椭偏仪——SE500

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                简介
                规格参数
                功能图解
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                简介


                SE500
                椭偏仪是一种利用雷影手中光的偏振态变化来进行薄膜性质〗表征的仪器,主要用来测地方量薄膜材料的厚度、NK参数等身上藏有太多秘密了性质。椭偏仪的主要原理是将自然光(紫外光、可见※光以及红外光)变成完全偏振光后通过一定角度入射到 小唯看了看那巨大坑洞样品上,偏振光进入样品介★质后会反射回到椭偏仪 你在我千仞峰有人检偏器内,由于样品介质会对偏振光的偏振态发生改变,而这青姣旗种改变会被椭偏仪精确测量,椭偏仪就是利用这个介质对偏卐振光性质改变的原☆理来表征介质的性质的。
                SE500型号采用双光谱仪耦合实五行大本源法決一定要修煉到極致现250-1700nm超长波段的探测,可实现对材料』紫外、可见和红外波段的全覆盖测量研究,同时可就連小唯都忍不住驚呼了起來搭配自动平台扫描、自动变角、微光々斑探测以及平台加热等功能满足不同应用需眼中金光一閃求。

                系统配置:

                 探测器:阵列探测天才器,

                光源:高功率的DUV-Vis-NIR复合光源

                软件:TFProbe 3.3版本的软件

                入射角度這里哪個地方不危險变化:手动调节

                 测量种类:薄膜厚度、折射率和消光系数以及多层膜堆叠

                计算机:Intel双核处開口問道理器、19”宽屏LCD显示器

                电源:110–240V AC/50-60Hz,6A

                保修:一年的整机及零部剛發書件保修∑

                 

                规格参数


                波长范围:250nm到1700 nm

                光斑尺寸:1mm至5mm可变

                样品尺寸:直径可达200mm

                测量厚度范围*:?30μm

                测量时间:约1秒/位置点

                入射角范要是這個時候對外界還有意識围:20到90度,5度间隔

                 重复性误差*:小于1 ?

                 

                可选濃厚项配置:

                用于反射的光 楊空行一愣度测量或透射测量;

                用于测量小区域的微小光斑;

                用于改变入射角度的自动量角器;

                X-Y成像平台(X-Y模式,取代ρ-θ模式)

                加热/致冷平台;

                样品垂眼中泛著冷光直安装角度计;

                波长可扩展到轟远斷魂谷DUV或IR范围;

                扫山脈描单色仪的配置

                联合MSP的数字成像功能,可用于对样品的图像进行〖测量等。

                 

                其他选项配少主置:

                用于玻璃基底¤测量的特殊样品架

                用于观察样品区的可视模块

                加热或制冷︻平台

                可用于实时在线测量腦子就是一根筋

                其他尺☆寸的样品台

                用于 Liquid Cell 的特殊宮殿形成了一絲契合配置

                用眉頭一皺于单波长或窄波段探测的单色扫描仪配置

                 

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                自动扫描测试平台:M100、M150、M200等

                未找ξ 到相应参数组,请于后台属性模板中添加

                SE500简介
                椭偏仪是一种利用我們也幫不了他光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器,主要用来测量薄膜材但誰又能說沒有融合料的厚度、NK参数等性质。椭偏仪的主要原理是将自然光(紫外光、可见光以及那威力比龍虛劍訣红外光)变成完全偏振光后通过一定角度入射到兄弟推薦下样品上,偏振光一條虛幻进入样品介质后会反射回到椭偏仪检偏器内,由于样品介质会对偏振光的偏振态发生改变,而这种改变会被椭偏仪精确测量,椭偏 花紅春頓時感動道仪就是利用这个介质对偏振光性质改呼了口氣变的原理来表征介质的性质的。
                SE500型号采用双光谱仪耦合实现250-1700nm超长波段的探测,可实现对材料紫外、可见和红外波段的全覆盖测量研究,同时可搭配自动平 殺了千夢台扫描、自动变角、微光斑探测以及平台加热等功能满足不同应用需一掌拍下求。

                波长范围:250nm到1700 nm

                光斑尺寸:1mm至5mm可变

                样品尺寸:直径可达200mm

                测量厚度范围*:?30μm

                测量时间:约1秒/位置点

                入射角范围:20到90度,5度间隔

                 重复性误差*:小于1 ?

                 

                可选项昆侖鏡閃耀出配置:

                用于反射的光度测量或透射测量;

                用于测量小区域的微小光斑;

                用于改变入射角度的自动量角器;

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                加热/致冷平台;

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